中国发明专利
[1] 布线资源预分配方法、装置、计算设备及存储介质. 公开号：CN116362194A.
[2] 时延预测方法、装置、设备及存储介质. 公开号：CN116522834A.
[3] 时钟树联合优化方法、装置、设备及计算机可读存储介质. 公开号：CN116402013A.
[4] 宏单元布局方法、设备及计算机可读存储介质. 公开号：CN116306465A.
[5] 集成电路布局方法、设备及计算机可读存储介质. 公开号：CN116467981A.
[6] 芯片电路布局方法、装置、设备及存储介质. 公开号：CN116384315A.
[7] 芯片单元布局优化方法、装置、设备及可读存储介质. 公开号：CN116306463A.
[8] 神经网络模型的不确定性估计方法及其相关设备. 公开号：CN116307216A.
[9] 基于权值的时序驱动布局方法、装置、设备及存储介质. 公开号：CN116245068A.
[10] 电容提取方法、装置、电子设备及存储介质，公开号：CN118486014A.
[11] 3D芯片布局模型及其构建方法、3D芯片布局方法，申请号：202411637071.2.
[12] 芯片自加热效应的跨层评估方法、装置、设备及存储介质，申请号：202510063680.X.
[13] 布局时序优化方法、装置、设备、存储介质及产品，公开号：CN118468793A.
[14] 平面设计规则检查方法、装置、电子设备及存储介质，公开号：CN118468803A.
[15] 电路重写方法、装置、设备及存储介质，公开号：CN118485032A.
[16] 电路图池化方法、装置、设备、存储介质及计算机程序产品，公开号：CN118468777A.
[17] 布线前时延预测方法、装置、设备、存储介质及程序产品，公开号：CN118350339A.
PCT专利
[1] 3D芯片布局模型及其构建方法、3D芯片布局方法，申请号：PCT/CN2024/134559.
[2] 芯片自加热效应的跨层评估方法、装置、设备及存储介质，申请号：PCT/CN2024/072206.